Pat

J-GLOBAL ID：201103084419899103

物体の調査方法及び調査装置

Inventor： 古部 昭広 ,  玉城 喜章 ,  加藤 隆二
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2005348029
Publication number (International publication number)：2007086047
Patent number：4621893
Application date： Dec. 01, 2005
Publication date： Apr. 05, 2007
Claim (excerpt)：

【請求項1】不透明障害物の向こう側に存在する物体に対して、第1の近赤外パルスレーザーを照射し、該物体内部の一点において集光させることにより該一点において多光子励起し、 前記第1の近赤外パルスレーザーと波長の異なる第2の近赤外パルスレーザーを、前記第1の近赤外パルスレーザーから所定遅延時間遅らせ、前記物体の前記一点に集光させて、前記多光子励起によって誘起される近赤外波長領域の光吸収強度を測定し、 光吸収スペクトル、又は、前記光吸収強度の前記遅延時間依存性により、物質の分析を行うことを特徴とする物体の調査方法。

IPC (1)：

G01N 21/39 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 21/39

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特許第2836859号
  
• 特表平5-503149
  
• 多光子励起レ-ザ顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-061495   Applicant：オリンパス光学工業株式会社