赤方偏移したストローク線を用いる、試料の蛍光顕微鏡測定法

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：江崎光史 , 鍛冶澤實 , 今村良太 , 清田栄章
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2010527448
Publication number (International publication number)：2011503525
Application date： Oct. 01, 2008
Publication date： Jan. 27, 2011
Summary：

試料(2)を蛍光顕微鏡法で測定するために、試料(2)の蛍光色素が、所定の波長の光(8)を用いて、ある状態から別の状態へ移行され、その際、光ファイバ(13)の選定、および、この光ファイバ(13)へ入射される前記別の波長を有する光(10)の強度の選定が行われる際、前記入射された波長を有する線の他に少なくとも1つの赤方偏移したストークス線(19から28)を前記光スペクトル(17)が有することができる程度に前記光ファイバ(13)内でラマン散乱が誘導され、前記ストークス線の強度半値幅が、光スペクトル(17)の、青色方向に隣接する線(18から28)までの間隔の半分よりも小さくなるように前記選定が行われて、このような強度でこの種の光ファイバに別の波長の光が入射され、かつ、1つの波長が、赤方偏移したストークス線(19から28)の1つから選定され、さらに、試料(2)からの蛍光(6)が、空間分解して測定される。

Claim (excerpt)：

試料を蛍光顕微鏡法で測定するための方法であって、 -試料の蛍光色素が、所定の波長の光を用いて、ある状態から別の状態へ移行され、 -別の波長の光が最小強度で光ファイバに入射され、この最小強度が、非線形効果によって、この別の波長に対して赤方偏移した波長を有する光スペクトルを出射させるような強度であり、かつ、 -前記所定の波長を有する光が、前記光スペクトルから選出され、さらに、 -試料からの蛍光が、空間分解して測定される方法において、光ファイバ(13)の選定、および、この光ファイバ(13)へ入射される前記別の波長を有する光(10)の強度の選定が行われる際、前記入射された波長を有する線(18)の他に少なくとも1つの赤方偏移したストークス線(19から28)を前記光スペクトル(17)が有することができる程度に前記光ファイバ(13)内でラマン散乱が誘導され、前記ストークス線の強度半値幅が、光スペクトル(17)の、青色方向に隣接する線(18から28)までの間隔の半分よりも小さくなるように、前記選定が行われること、および、前記所定の波長が、前記赤方偏移したストークス線(19から28)の1つから選定されることを特徴とする方法。

IPC (6)：

G01N 21/64 , G02B 21/06 , G01N 21/65 , G02B 6/00 , G02F 1/35 , G02B 6/032

FI (7)：

G01N21/64 E , G02B21/06 , G01N21/65 , G01N21/64 B , G02B6/00 376Z , G02F1/35 502 , G02B6/20 Z

F-Term (33)：

2G043AA03 , 2G043EA01 , 2G043EA03 , 2G043EA10 , 2G043FA02 , 2G043GA04 , 2G043GB18 , 2G043HA01 , 2G043HA05 , 2G043HA09 , 2G043JA02 , 2G043KA02 , 2G043KA09 , 2G043LA01 , 2H052AA09 , 2H052AC04 , 2H052AC14 , 2H052AC26 , 2H052AC27 , 2H052AC30 , 2H052AC34 , 2H052AD34 , 2H052AF06 , 2H150AF28 , 2H150AH15 , 2K002AA04 , 2K002AB12 , 2K002AB27 , 2K002BA02 , 2K002CA15 , 2K002DA10 , 2K002EA30 , 2K002HA23

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