Pat
J-GLOBAL ID:201103088001141188

温度変化による誤差を補正して固体の体積変化率及び/又は長さ変化率を測定する方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松本 悟
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009249610
Publication number (International publication number):2011095114
Application date: Oct. 30, 2009
Publication date: May. 12, 2011
Summary:
【課題】測定時の環境温度が異なった場合や任意の線膨張係数の値を持つ標準器を用いた場合などに、それら影響を取り除き、適切な環境温度における測定結果を得ることができる固体の体積変化率及び/又は長さ変化率を測定する方法を提供する。【解決手段】標準器と固体の供試体の温度を測定し、特定の式に基づいて、標準器と固体の供試体の温度変化による誤差をそれぞれ算定して、温度変化による固体の体積変化率及び/又は長さ変化率の誤差を補正する固体の体積変化率及び/又は長さ変化率を測定する方法を構成とする。【選択図】図2
Claim (excerpt):
標準器と固体の供試体の温度を測定し、次の式9に基づいて、標準器と固体の供試体の温度変化による誤差をそれぞれ算定して、温度変化による固体の体積変化率及び/又は長さ変化率の誤差を補正することを特徴とする固体の体積変化率及び/又は長さ変化率を測定する方法。
IPC (3):
G01B 5/30 ,  G01B 21/32 ,  G01N 33/38
FI (3):
G01B5/30 ,  G01B21/32 ,  G01N33/38
F-Term (14):
2F062AA21 ,  2F062AA90 ,  2F062CC03 ,  2F062DD02 ,  2F062GG18 ,  2F062GG24 ,  2F069AA06 ,  2F069AA31 ,  2F069AA96 ,  2F069EE02 ,  2F069EE24 ,  2F069GG62 ,  2F069GG71 ,  2F069NN00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page