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J-GLOBAL ID：201103091702139090

磁気特性測定装置および磁気特性測定方法

Inventor： 橋本 佑介 ,  青島 賢一 ,  町田 賢司 ,  船橋 信彦 ,  久我 淳 ,  清水 直樹
Applicant, Patent owner： 日本放送協会
Agent (2)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009189457
Publication number (International publication number)：2011039009
Application date： Aug. 18, 2009
Publication date： Feb. 24, 2011
Summary：

【課題】強磁性体の磁気特性測定において、試料の異方性磁場Haniを容易に求める技術を提供する。【解決手段】磁気特性測定装置1は、磁性体の試料Fに高繰り返し周波数νLのパルスレーザを照射するレーザ光源2と、試料Fに磁場Hextを印加する外部磁場印加手段4と、ビームスプリッタ7と、反射板8が設けられた移動ステージ11とを備え、パルスレーザ光として連続して照射される複数パルスをビームスプリッタ7で分離したときのビーム1とビーム2とを試料Fに重ねて照射するときの遅延時間tintを移動ステージ11により制御し、試料Fの磁化の歳差運動を、レーザの繰り返し周波数νLに同期させ、試料Fへ光を照射したときに誘起される磁化の歳差運動をパルスレーザに共鳴させて、外部磁場Hextに応じた試料FのMO信号Θを偏光検出器5で検出し、制御装置6により試料Fの異方性磁場Haniを算出する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

所定の繰り返し周期のレーザ光を強磁性体の試料に照射することで、当該試料の有効内部磁場または異方性磁場を含む磁気特性を測定する磁気特性測定装置であって、 前記試料の磁化の歳差運動の周期に同期可能な繰り返し周期の連続した複数パルスのレーザ光を前記試料に照射するレーザ光源と、 前記試料に所定の磁場を印加する外部磁場印加手段と、 前記複数パルスのレーザ光を第1のビームおよび第2のビームに分離して第1のビームを前記試料に導く位置に配設されたビームスプリッタと、 前記ビームスプリッタで分離した第2のビームを反射する第1の反射板が配設された移動可能な移動ステージと、 前記第1の反射板で反射した第2のビームを反射して前記試料に導く位置に配設された第2の反射板と、 前記分離した各ビームが前記試料で反射した反射光、または、前記分離した各ビームが前記試料を透過した透過光を受光してその偏光成分を検出した磁気光学信号を出力する偏光成分検出手段と、 前記試料の磁化の歳差運動が前記パルスの繰り返し周期に同期したことを示す第1共鳴条件において前記試料に印加されていた外部磁場の情報を予め取得し、当該外部磁場を前記試料に印加し、かつ、前記分離した各パルスビームを前記試料に照射したときに、前記試料の磁化の歳差運動が前記連続した複数パルスに共鳴するときの前記移動ステージの位置を第2共鳴条件として取得し、前記外部磁場の大きさと、前記第2共鳴条件において検出した前記磁気光学信号および前記移動ステージの位置と、前記繰り返し周期との各情報を用いて、LLG(Landau-Lifshitz-Gilbert)方程式に基づいて、前記試料の有効内部磁場または異方性磁場を算出する制御装置と、 を備えることを特徴とする磁気特性測定装置。

IPC (1)：

G01R 33/12

FI (1)：

G01R33/12 Z

F-Term (7)：

2G017AD11 ,  2G017AD15 ,  2G017CA10 ,  2G017CB01 ,  2G017CB15 ,  2G017CB20 ,  2G017CC01