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J-GLOBAL ID:201110028552704773   Research Resource code:5000002551 Update date:Dec. 01, 2005

Scanning electron microscope

電解放射型走査型電子顕微鏡システム
Contact: ITO Masami
Resource classification: Experience equipment, Facilities, etc
Research area  (4): Inorganic material/physical properties ,  Composite materials/physical properties ,  Structural/functional materials ,  Material processing/treatment
Overview:
試料に電子線をあてることにより、生成する二次電子を検出することに
より試料表面の微細な構造を測定する
User procedures and method:
担当者に相談のこと

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