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J-GLOBAL ID:201110051423156494   Research Resource code:5000003838 Update date:Nov. 01, 2005

High-tempeature Fatigue Testing Machine with Scanning Microscope

走査電子顕微鏡付高温疲労試験機
Owning Organization:
Contact: IZUI Hiroshi
Resource classification: Experience equipment, Facilities, etc
Research area  (1): Machine material/material mechanics
Overview:
走査電子顕微鏡付高温疲労試験機 主要目的:試験温度が室温から
800°Cの範囲で、疲労試験を行いながら材料中に発生した疲労き裂の
進展が観察できる装置
User procedures and method:
・利用手続き:担当者に問い合わせの上、予約すること
・利用料金:1時間当り2000円 ・利用者の資格 本学教員または本
学教員との共同研究者 ・利用上の制約 特になし

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