Rsrc
J-GLOBAL ID：201110051423156494
Research Resource code：5000003838
Update date：Nov. 01, 2005
High-tempeature Fatigue Testing Machine with Scanning Microscope
走査電子顕微鏡付高温疲労試験機
Owning Organization：
Contact：
IZUI Hiroshi
Resource classification：
Experience equipment, Facilities, etc
Research area (1)：
Machine material/material mechanics
Overview：
走査電子顕微鏡付高温疲労試験機 主要目的:試験温度が室温から
800°Cの範囲で、疲労試験を行いながら材料中に発生した疲労き裂の
進展が観察できる装置
User procedures and method：
・利用手続き:担当者に問い合わせの上、予約すること
・利用料金:1時間当り2000円 ・利用者の資格 本学教員または本
学教員との共同研究者 ・利用上の制約 特になし
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