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J-GLOBAL ID:201110051918804042   Research Resource code:5000001832 Update date:Feb. 09, 2005

high resolution electron microscope system

高分解能電子顕微鏡システム
Owning Organization:
Contact: IWAMA Saburo
Resource classification: Experience equipment, Facilities, etc
Research area  (1): Applied physical properties/crystal engineering
Overview:
高分解能電子顕微鏡システム
各種薄膜試料および微粒子の透過電子顕微鏡像による観察と,電子回
析による構造評価のための装置.
User environment and conditions:
研究業務の遂行に支障のないこと。
User procedures and method:
詳細は担当者まで問い合わせること

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