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J-GLOBAL ID:201110068739645748   Research Resource code:5000003835 Update date:Nov. 01, 2005

低温磁場中比熱測定装置

低温磁場中比熱測定装置
Owning Organization:
Contact: TAKANO Yoshiki
Resource classification: Experience equipment, Facilities, etc
Research area  (1): Physical properties I
Overview:
低温磁場中比熱測定装置 主要目的:固体の基本物性である比熱を
20K〜300Kまで磁場中で微少な試料で測定が可能である。 磁場
7T.まで
User environment and conditions:
研究業務の遂行に支障のないこと
User procedures and method:
※利用手続き 担当者に問い合せること ※料金 無料 ※資格 本
学との共同研究者

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