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J-GLOBAL ID:201110069247167979   Research Resource code:5000001703 Update date:Feb. 03, 2005

Scanning Electron Microscope

走査型電子顕微鏡
Owning Organization:
Contact: HOSHIDE Toshihiko
Resource classification: Experience equipment, Facilities, etc
Research area  (1): Machine material/material mechanics
Overview:
走査型電子顕微鏡 主要目的:セラミックスおよびコーティング・
ガラスの破壊における破壊起点の同定とそのデータベース化の
ための装置
User environment and conditions:
研究業務の遂行に支障のないこと
User procedures and method:
詳細は、担当者まで問い合わせること。

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