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J-GLOBAL ID:201110077530124642   Research Resource code:5000004336 Update date:Jan. 24, 2006

X-ray photoelectron spectroscope

X線光電子分光析装置
Owning Organization:
Contact: TATSUYAMA Chiei
Resource classification: Others
Research area  (3): Applied physical properties/crystal engineering ,  Thin film and surface interface physical properties ,  Electron/electric material engineering
Overview:
X線光電子分光分析装置
主要目的:物質の表面を構成する元素を同定し、さらにその組成や
結合状態を検出するための装置
User environment and conditions:
超高真空中でガスが発生しないこと。導電性があり表面に汚れがないこと。
User procedures and method:
詳細は、担当者まで問い合わせること。

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