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J-GLOBAL ID：201202210883692553   Reference number：12A0654918

SPMのフロンティア~多様な材料系の研究ニーズに対応するSPM物性計測の最先端~放射光励起走査トンネル顕微鏡による高分解能元素分析

Author (5)： EGUCHI TOYOAKI (JST-ERATO) ,  EGUCHI TOYOAKI (慶応大 大学院理工学研究科) ,  OKUDA TAICHI (広島大 放射光科学研究セ) ,  KINOSHITA TOYOHIKO (JASRI) ,  HASEGAWA YUKIO (東大 物性研)
Material： 顕微鏡  (Microscopy)
Volume： 47  Issue： 1  Page： 14-17  Publication year： Mar. 30, 2012 
JST Material Number： Y0541A  ISSN： 1349-0958  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *synchrotron radiation ,  *scanning tunneling microscope ,  *elemental analysis ,  *visualization ,  structure ,  nickel ,  iron ,  substrate(plate) ,  silicon ,  buffer layer ,  gold ,  *high-resolution
Semi thesaurus term： *X線光電子放出 ,  stripe geometry

JST classification (2)： Photoemission and photoelectrons  (BM09030D) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Reference (13)：

• BINNIG, G. Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 57-61
• STIPE, B. S. Science. 1998, 280, 1732-1735
• SCHMIDT, Th. Surf. Rev. Lett. 1998, 5, 1287-1296
• KIMOTO, K. Nature (London). 2007, 450, 702-704
• MATSUSHIMA, T. Rev. Sci. Instrum. 2004, 75, 2149-2153

Terms in the title (11)： SPM ,  研究 ,  ニーズ ,  物性 ,  計測 ,  最先端 ,  放射 ,  光励起 ,  走査トンネル顕微鏡 ,  高分解能 ,  元素分析