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J-GLOBAL ID：201202228403534747   Reference number：12A0592915

テスト命令に基づくDDR3メモリモジュールテスタの開発

Author (5)： ASAKAWA TAKESHI (東海大 大学院工学研究科) ,  MATSUNO SATOSHI (東海大 大学院工学研究科) ,  TSUCHIYA HIDEKAZU (日立ハイテクエンジニアリングサービス) ,  SEKI TATSUYA (テクニカ) ,  KUMAZAWA SHIN'ICHI (テクニカ)
Material： 電子情報通信学会論文誌 D  (IEICE Transactions on Information and Systems (Japanese Edition))
Volume： J95-D  Issue： 4  Page： 928-939  Publication year： Apr. 01, 2012 
JST Material Number： S0757C  ISSN： 1880-4535  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *semiconductor memory ,  *circuit tester ,  FPGA
Semi thesaurus term： *DDR3 ,  *LSIテスタ

JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (16)：

• 日経BP社, “ギガ盛りメモリのすすめ,”日経パソコン, no.550, pp. 52-69, March 2008.
• 志村幸雄, エレクトロニクス実装大事典,(社) エレクトロニクス実装学会, 株式会社工業調査会, 東京, 2000.
• 千野俊猛, “プリント板と実装技術,”キーテーマ & キーワードのすべて, NPOサーキットネットワーク, 日刊工業新聞社, 東京, 2005.
• 井口幸雄, 来住野知臣, 横山治男, “メモリバーンイン装置のテストパターン生成・制御回路のFPGAによる実現,”信学技報, FTS97-48, Oct.1997.
• 守屋 悟, 柳瀬 剛, 井口幸洋, 亀山修一, 島田浩巳, “動的再構成方式メモリテスタ用の高位テスト記述とVHDLへの変換,”信学技報, DC2005-79, Feb.2006.

Terms in the title (3)： テスト ,  命令 ,  開発