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J-GLOBAL ID：201202229738944814   Reference number：12A0652669

Nanoscale magnetic field mapping with a single spin scanning probe magnetometer

単一スピン走査型プローブ磁力計を用いたナノスケール磁場マッピング

Author (10)： RONDIN L. (Lab. de Photonique Quantique et Moleculaire, Ecole Normale Superieure de Cachan and CNRS UMR 8537, 94235 Cachan ...) ,  TETIENNE J.-p. (Lab. de Photonique Quantique et Moleculaire, Ecole Normale Superieure de Cachan and CNRS UMR 8537, 94235 Cachan ...) ,  SPINICELLI P. (Lab. de Photonique Quantique et Moleculaire, Ecole Normale Superieure de Cachan and CNRS UMR 8537, 94235 Cachan ...) ,  DAL SAVIO C. (Attocube systems AG, Koeniginstrasse 11A RGB, Munich 80539, DEU) ,  KARRAI K. (Attocube systems AG, Koeniginstrasse 11A RGB, Munich 80539, DEU) ,  DANTELLE G. (Lab. de Physique de la Matiere Condensee, Ecole Polytechnique and CNRS UMR 7643, 91128 Palaiseau, FRA) ,  THIAVILLE A. (Lab. de Physique des Solides, Univ. Paris-Sud and CNRS UMR 8502, 91405 Orsay, FRA) ,  ROHART S. (Lab. de Physique des Solides, Univ. Paris-Sud and CNRS UMR 8502, 91405 Orsay, FRA) ,  ROCH J.-f. (Lab. de Photonique Quantique et Moleculaire, Ecole Normale Superieure de Cachan and CNRS UMR 8537, 94235 Cachan ...) ,  JACQUES V. (Lab. de Photonique Quantique et Moleculaire, Ecole Normale Superieure de Cachan and CNRS UMR 8537, 94235 Cachan ...)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 100  Issue： 15  Page： 153118-153118-4  Publication year： Apr. 09, 2012 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： magnetometer ,  scale ,  mapping ,  magnetic field ,  electromagnetic field analysis ,  atomic force microscope ,  *scanning probe microscope ,  vacancy ,  nitrogen ,  *image processing
Semi thesaurus term： nanoscale ,  mapping ,  magnetic field analysis ,  nitrogen vacancy center ,  *electron spin resonance imaging

JST classification (2)： Election spin resonance in general  (BM07021V) ,  Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (7)： スピン ,  走査型 ,  プローブ ,  磁力計 ,  ナノスケール ,  磁場 ,  マッピング