Art

J-GLOBAL ID：201202234725375148   Reference number：12A0554340

Dependence of the Fe 2p XPS spectra on the thickness and temperature in Fe/Tb thin films

Fe/Tb薄膜におけるFe 2p XPSスペクトルの膜厚及び温度依存性

Author (2)： SERIZAWA YOSHIHIKO (群馬大 教育) ,  OKUSAWA MAKOTO (群馬大 教育)
Material： 群馬大学教育学部紀要 自然科学編  (Science Reports of the Faculty of Education, Gunma University)
Volume： 60  Page： 33-40  Publication year： Feb. 14, 2012 
JST Material Number： F0642A  ISSN： 0017-5668  CODEN： GDSHAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *iron ,  *metallic thin film ,  *terbium ,  *X-ray photoelectron spectrum ,  core level ,  binding energy ,  *interface(surface) ,  electron configuration ,  electric charge distribution ,  density ,  vacuum deposition ,  stainless steel ,  substrate(plate) ,  electronic structure
Semi thesaurus term： *film thickness dependence

JST classification (3)： Metallic thin films  (BK14030T) ,  Electron spectroscopy  (BM09060K) ,  Electronic structure of surfaces  (BM02080J)

Terms in the title (7)： Fe ,  Tb ,  薄膜 ,  XPS ,  スペクトル ,  膜厚 ,  温度依存性