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J-GLOBAL ID：201202246690373544   Reference number：12A0587451

点接触電流イメージングAFMを用いた有機薄膜トランジスタにおける局所電気特性評価

Author (5)： KIMURA TOMOHARU (京大 大学院) ,  MIYATO YUJI (京大 大学院) ,  KOBAYASHI KEI (京大) ,  YAMADA HIROFUMI (京大 大学院) ,  MATSUSHIGE KAZUMI (京大 大学院)
Material： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
Volume： 59th  Page： ROMBUNNO.16A-F5-4  Publication year： Feb. 29, 2012 
JST Material Number： Y0054B  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： point contact ,  *atomic force microscope ,  *thin film transistor ,  organic semiconductor ,  *image ,  current measurement ,  *electric current
Semi thesaurus term： *電流画像 ,  *organic thin-film transistor

JST classification (1)： Transistors  (NC03070N)

Terms in the title (6)： 点接触 ,  イメージング ,  AFM ,  有機薄膜トランジスタ ,  電気特性 ,  評価