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J-GLOBAL ID：201202250422597534   Reference number：12A1028054

Characteristics of nanostructured Ag films by the reduction of sputtered AgO_x thin films

スパッタAgO_x薄膜の還元によるナノ構造Ag膜の特性

Author (7)： ARAI T. (Nat. Inst. of Adv. Ind. Sci. & Technol., Tsukuba) ,  ROCKSTUHL C. ,  FONS P. ,  KURIHARA K. ,  NAKANO T. ,  AWAZU K. ,  TOMINAGA J.
Material： Nanotechnology
Volume： 17  Issue： 1  Page： 79-82  Publication year： 2006 
JST Material Number： W0108A  ISSN： 0957-4484  CODEN： NNOTER  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *silver oxide ,  *nanostructure ,  *Silver ,  reduction (reaction) ,  *nano particle ,  electron microscopy ,  reflection spectrum ,  plasma resonance ,  Computer Simulation ,  XANES ,  metallic thin film ,  *silver nanoparticle ,  Scanning Electron Microscopy ,  cross-sectional transmission electron microscope ,  Microscopy, Electron, Transmission ,  localized surface plasmon resonance ,  Mie theory ,  computer application ,  utilization

JST classification (2)： Metallic thin films  (BK14030T) ,  Optical properties of condensed matter in general  (BM08010A)

Terms in the title (5)： スパッタ ,  薄膜 ,  還元 ,  ナノ構造 ,  Ag