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J-GLOBAL ID：201202254466473030   Reference number：12A0608459

Current situation and applications of terahertz spectroscopic systems.

テラヘルツ分光システムの現状と応用用途

Author (1)： KITAGISHI KEIKO (大塚電子)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 81  Issue： 4  Page： 312-316  Publication year： Apr. 10, 2012 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *spectrochemical analysis ,  *electromagnetic wave ,  *time domain spectroscopy ,  crystal ,  spectral analysis ,  drug ,  thickness measurement ,  *terahertz wave ,  *Terahertz Spectroscopy ,  organic crystal ,  film thickness measurement
Semi thesaurus term： film thickness measurement

JST classification (1)： Spectroscopy and spectrometers in general  (BD07041Q)

Reference (17)：

• 1) M. Tonouchi: Nature Photonics 1, 97 (2007).
• 2) 阪井清美: 分光研究50(6), 261 (2001).
• 3) 深澤亮一: ぶんせき2005(6), 290 (2005).
• 4) 萩行正憲,谷正彦,北原英明,長島健: J.Plasma Fusion Res. 84(11), 731 (2008).
• 5) K. Kitagishi: Proc. 35th Int. conf. Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, Rome, Mo-P.28 (2010)

Terms in the title (4)： テラヘルツ分光 ,  現状 ,  応用 ,  用途