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J-GLOBAL ID：201202262286546260   Reference number：12A1697995

Corrosion behavior of a duplex stainless steel under cyclic loading: a scanning Kelvin probe force microscopy (SKPFM) based microscopic study

繰返し荷重下での二相ステンレス鋼の腐食挙動:走査型Kelvinプローブ力顕微鏡法(SKPFM)に基づく顕微鏡的研究

Author (1)： PAN Tongyan (The Catholic Univ. of America, 620 Michigan Avenue, N.E., 20064, Washington, DC, USA)
Material： Journal of Applied Electrochemistry  (J Appl Electrochem)
Volume： 42  Issue： 12  Page： 1049-1056  Publication year： Dec. 2012 
JST Material Number： B0393B  ISSN： 0021-891X  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *Microscopy ,  repeated load ,  tensile stress ,  *duplex stainless steel ,  corrosion potential ,  strain ,  Electrochemistry ,  surface potential ,  behavior ,  corrosion mechanism ,  *Kelvin probe force microscopy ,  tensile strain ,  corrosion behavior ,  *corrosion fatigue ,  mechanism ,  *fatigue ,  *Corrosion
Semi thesaurus term： *corrosion fatigue

JST classification (1)： Basic corrosion theory and corrosion test  (WB03020Q)

Terms in the title (6)： 繰返し荷重 ,  二相ステンレス鋼 ,  腐食挙動 ,  走査型 ,  Kelvinプローブ力顕微鏡法 ,  研究