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J-GLOBAL ID：201202268213323318   Reference number：12A0056015

最新の非破壊検査に活用されるX線技術 1)MIRRORCLE-CV4超微小焦点高エネルギーX線源

Author (5)： YAMADA HIRONARI (光子発生技術研究所) ,  YAMADA TAKANORI (光子発生技術研究所) ,  HASEGAWA DAISUKE (光子発生技術研究所) ,  HAYASHI TAICHI (光子発生技術研究所) ,  YAMADA MAMI (光子発生技術研究所)
Material： 検査技術  (Inspection Engineering (Tokyo))
Volume： 17  Issue： 1  Page： 44-51  Publication year： Jan. 01, 2012 
JST Material Number： L3524A  ISSN： 1342-9825  CODEN： KGEIAS  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *nondestructive inspection ,  technology ,  *X-ray source ,  *resolving power ,  synchrotron radiation ,  space resolving power ,  *imaging plate
Semi thesaurus term： *X-ray technique ,  picture element ,  resolution ,  synchrotron radiation

JST classification (1)： Nondestructive testing  (HB02030F)

Terms in the title (7)： 非破壊検査 ,  活用 ,  X線技術 ,  MIRRORCLE ,  微小 ,  焦点 ,  高エネルギーX線