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J-GLOBAL ID：201202271145075832   Reference number：12A0099366

X-ray Pinpoint Structural Measurement for Nanomaterials and Devices at BL40XU of the SPring-8

ナノ材料のX線ピンポイント構造測定とSPring-8のBL40XUでのデバイス

Author (11)： KIMURA Shigeru ,  MORITOMO Yutaka ,  TANAKA Yoshihito ,  TANAKA Hitoshi ,  TORIUMI Koshiro ,  KATO Kenichi ,  YASUDA Nobuhiro ,  FUKUYAMA Yoshimitsu ,  KIM Jungeun ,  MURAYAMA Haruno ,  TAKATA Masaki
Material： AIP Conference Proceedings  (AIP Conf Proc)
Volume： 879  Issue： Pt.2  Page： 1238-1241  Publication year： 2007 
JST Material Number： D0071C  ISSN： 0094-243X  Document type： Proceedings
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (3)： ナノ材料 ,  X線 ,  SPring-8