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J-GLOBAL ID：201202285052319422   Reference number：12A1440904

Consideration of Secondary Electron Emission Effect for Probe Measurement

プローブ測定における二次電子放出の考察

Author (3)： TAWARAYA Takehito (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  TSUSHIMA Akira (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  YOSHIMURA Shinji (National Inst. Fusion Sci., Gifu, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 51  Issue： 9,Issue 1  Page： 096101.1-096101.5  Publication year： Sep. 25, 2012 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electron temperature ,  *Langmuir probe ,  *secondary electron emission ,  electron collision ,  Tungsten ,  Molybdenum ,  electrode material
Semi thesaurus term： electron impact

JST classification (1)： Plasma diagnostics  (BJ02090L)

Reference (24)：

• 1) I. H. Hutchinson: Principles of Plasma Diagnostics (Cambridge University Press, New York, 2002) p. 55.
• 2) F. F. Chen: Institute of Plasma Physics, Nagoya University, Report No. IPPJ-750 (1985).
• 3) K. Wiesemann: Ann. Phys. (Leipzig) 482 (1971) 303 [in German].
• 4) G. Fuchs: Phys. Lett. A 70 (1979) 317.
• 5) G. Fuchs, B. Schlarbaum, H. Beuscher, H. G. Mathews, and W. Krauss-Vogt: J. Nucl. Mater. 145-147 (1987) 268.

Terms in the title (2)： プローブ ,  二次電子放出