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J-GLOBAL ID：201202288796930480   Reference number：12A0783906

Direct hole and delayed electron capture on a picosecond timescale by Eu²⁺ centers in CaGa₂S₄ monitored by synchroscan with horizontal blanking

水平帰線を備えた同期走査で監視したCaGa₂S₄におけるEu²⁺中心によるピコ秒時間スケールでの直接正孔及び遅延電子捕獲

Author (4)： LOUWERS D. J. (Delft Univ. of Technol., Luminescent Material Res. Group, Mekelweg 15, 2629JB Delft, NLD) ,  TAKIZAWA T. (Nihon Univ., 3-25-40 Sakurajosui, Setagaya-ku, Tokyo, JPN) ,  HIDAKA C. (Nihon Univ., 3-25-40 Sakurajosui, Setagaya-ku, Tokyo, JPN) ,  VAN DER KOLK E. (Delft Univ. of Technol., Luminescent Material Res. Group, Mekelweg 15, 2629JB Delft, NLD)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 111  Issue： 9  Page： 093709-093709-7  Publication year： May. 01, 2012 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： time resolution ,  lifetime ,  *high speed camera ,  *europium ,  *doping ,  *sulfide(chalcogenide) ,  *calcium compound ,  *gallium compound ,  luminescence ,  *energy transfer ,  correlation ,  decay time ,  flyback period ,  scanning ,  picosecond ,  *emission center ,  concentration dependence ,  temperature dependence ,  *carrier capture
Semi thesaurus term： streak camera ,  inverse correlation ,  long life ,  同期走査 ,  rise time

JST classification (1)： Luminescence of semiconductors  (BM08092S)

Terms in the title (6)： 走査 ,  ピコ秒 ,  時間スケール ,  正孔 ,  遅延 ,  電子捕獲