Art

J-GLOBAL ID：201202290291829770   Reference number：12A0441511

Ultrasoft-X-ray emission spectroscopy using a newly designed wavelength-dispersive spectrometer attached to a transmission electron microscope

透過型電子顕微鏡に搭載した新設計波長分散分光計を使用する超軟X線発光分光法

Author (13)： TERAUCHI Masami (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TAKAHASHI Hideyuki (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  HANDA Nobuo (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  MURANO Takanori (JEOL Ltd., Tokyo, JPN) ,  KOIKE Masato (Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN) ,  KAWACHI Tetsuya (Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN) ,  IMAZONO Takashi (Japan Atomic Energy Agency, Kyoto, JPN) ,  KOEDA Masaru (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  NAGANO Tetsuya (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  SASAI Hiroyuki (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  OUE Yuki (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  YONEZAWA Zeno (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN) ,  KURAMOTO Satoshi (Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
Material： Journal of Electron Microscopy  (J Electron Microsc)
Volume： 61  Issue： 1  Page： 1-8  Publication year： Feb. 2012 
JST Material Number： W1384A  ISSN： 0022-0744  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *transmission electron microscope ,  detection limit ,  chemical shift ,  soft X-ray ,  diffraction grating ,  *X-ray spectrum ,  *dispersion ,  Magnesium ,  Lithium ,  Aluminum ,  silicon ,  phosphorus ,  *X-ray spectrometry ,  *emission spectrometry ,  band gap energy ,  *Spectrometry, X-Ray Emission
Semi thesaurus term： *chromatic dispersion ,  ultrasoft X-ray ,  *X-ray emission spectroscopy

JST classification (2)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (5)： 透過型電子顕微鏡 ,  設計 ,  波長分散 ,  分光計 ,  軟X線発光分光法