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J-GLOBAL ID：201202295706680230   Reference number：12A1611019

Characterization of a Pixelated CdTe X-Ray Detector Using the Timepix Photon-Counting Readout Chip

Timepix光子計数読出しチップを用いたピクセル化CdTe・X線検出器の特性評価

Author (2)： RUAT Marie (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA) ,  PONCHUT Cyril (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
Material： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Trans Nucl Sci)
Volume： 59  Issue： 5,Pt.3  Page： 2392-2401  Publication year： Oct. 2012 
JST Material Number： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *photon counting ,  electric circuit ,  *cadmium telluride ,  *semiconductor radiation detector ,  synchrotron ,  *semiconductor chip ,  X-Ray Diffraction ,  X-ray image ,  *X-ray detector ,  *pixel detector ,  single photon counting
Semi thesaurus term： *Timepixチップ ,  readout circuit

JST classification (1)： Radiation detection and detectors  (AD08020J)

Terms in the title (5)： 光子計数 ,  ピクセル ,  CdTe ,  X線検出器 ,  特性評価