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J-GLOBAL ID：201203021146733636

2ビーム型光コヒーレンストモグラフィー装置

Inventor： 安野 嘉晃 ,  巻田 修一 ,  伊藤 雅英
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 筑波大学
Agent (1)： 光田 敦
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2010059603
Publication number (International publication number)：WO2010143601
Application date： Jun. 07, 2010
Publication date： Dec. 16, 2010
Summary：

ドップラーOCTなどにおける試料の走査速度を速くし血流速度、血流量などの計測を迅速に行えるようにする。光源2からの広帯域光を偏光制御装置3で直線偏光し、試料アームにおいてウォーラストンプリズム14により直線偏光したビームを垂直偏光と水平偏光に分け、ガルバノ鏡18で、走査方向について試料の異なる2部位に同時に照射して走査を行い、参照アーム5からの参照光と試料アーム6からの物体光を合波、干渉させ、この干渉信号光を回折格子26で分光し、さらに偏光ビームスプリッター28で水平成分と垂直成分を分離し、2つ偏光感受型光検出器29、30により同時に計測し、時間の異なる同じ位置の2枚の断層画像を1回の機械的走査によって取得し、2枚の断層画像により、位相の時間変化量を計測可能とする。

Claim (excerpt)：

広帯域光源、偏光制御装置、ファイバーカプラー、参照アーム、試料アーム及び分光器を備えた2ビーム型光コヒーレンストモグラフィー装置であって、 広帯域光源からの光を前記偏光制御装置で直線偏光し、該直線偏光したビームを、前記試料アームにおいて、互いに独立な2つの偏光ビームに分けて、該2つの偏光ビームをガルバノ鏡により、その走査方向について異なる2部位に同時に照射しながら走査を行い、 前記参照アームからの参照光と前記試料アームからの物体光を合波して干渉させた干渉信号光を、前記分光器において、回折格子で分光し、さらに偏光ビームスプリッターで垂直成分と水平成分に分離してそれぞれを2つの検出器で同時に検出し、時間の異なる同じ部位の2枚の断層画像を、前記1回の機械的走査によって取得し、該2枚の断層画像により、前記同じ部位についての位相の時間変化量を計測可能とすることを特徴とする2ビーム型光コヒーレンストモグラフィー装置。

IPC (4)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/12 ,  A61B 5/026 ,  G01N 21/17

FI (4)：

A61B3/10 R ,  A61B3/12 E ,  A61B5/02 340D ,  G01N21/17 630

F-Term (30)：

2G059AA03 ,  2G059BB13 ,  2G059EE05 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059FF01 ,  2G059FF04 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04 ,  4C017AA11 ,  4C017AB07 ,  4C017AC26 ,  4C017CC02