Pat

J-GLOBAL ID：201203030562144517

放射線計測システム

Inventor： 金子 卓 ,  加納 豊広 ,  宮田 学 ,  萩原 康正 ,  富岡 智 ,  西山 修輔
Applicant, Patent owner： 株式会社デンソー ,  国立大学法人北海道大学
Agent (3)： 矢作 和行 ,  野々部 泰平 ,  久保 貴則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010263973
Publication number (International publication number)：2012112892
Application date： Nov. 26, 2010
Publication date： Jun. 14, 2012
Summary：

【課題】暗電流に基づくノイズによる影響を抑制して放射線量を計測することができる放射線計測システムを提供する。【解決手段】画像処理装置40は、予め設定される計測期間にわたってCCDカメラ30で撮影された画像の輝度ヒストグラムを、各画素毎に求める。画像処理装置40は、各画素毎に、求められた輝度ヒストグラムの輝度の平均値から、ピーク輝度を減算した値を算出することによって、暗電流に基づく輝度を除去する。これによって各画素における放射線に基づく輝度と推定することができる。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

対象物から放射される放射線を計測する放射線計測システムであって、 前記放射線が照射されると光を発するシンチレータと、 前記シンチレータが発した光を撮影する撮影手段と、 前記撮影手段で撮影された画像を画像処理する画像処理手段と、を含み、 前記画像処理手段は、暗電流に基づく輝度を除去する画像処理において、 予め設定される計測期間にわたって前記撮影手段で撮影された画像の輝度ヒストグラムを、各画素毎に求め、 前記各画素毎に、前記求められた輝度ヒストグラムの輝度の平均値から、前記求められた輝度ヒストグラムにおける最大頻度の輝度を減算した値を算出することを特徴とする放射線計測システム。

IPC (1)：

G01T 1/20

FI (2)：

G01T1/20 F ,  G01T1/20 G

F-Term (9)：

2G088GG13 ,  2G088GG15 ,  2G088GG16 ,  2G088GG19 ,  2G088GG28 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK32 ,  2G088LL11 ,  2G088LL17