Pat
J-GLOBAL ID：201203035083881959
超音波探傷装置及び超音波探傷方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
藤田 考晴
, 上田 邦生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010140705
Publication number (International publication number)：2012002781
Application date： Jun. 21, 2010
Publication date： Jan. 05, 2012
Summary：
【課題】装置コストを抑制しつつ、検査信頼性を向上させ得る超音波探傷装置及び超音波探傷方法を提供する。【解決手段】走査部21により、スペーサ9を介して探傷プローブ5の振動子6の配置列を被検体3の探傷面と接触させ、探傷プローブ5を一方向に移動可能に支持することとし、走査部21(走査ステップ)の移動走査における各段階(各探傷プローブ位置)で、探傷プローブ5の振動子6の配置列の曲率別、並びに探傷プローブ5の振動子6の配置列と被検体3の探傷面との間隔別の組み合わせによる複数の遅延時間パターンに基づき電子スキャンを行う。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
複数個の振動子を列状または面状に並べて配置し、該配置列または配置面が任意の曲率を持つことが可能なフレキシブルフェーズドアレイ超音波探傷プローブを用いた超音波探傷装置であって、
スペーサを介して前記探傷プローブの振動子配置列または配置面を被検体の探傷面と接触させ、該探傷プローブを一方向に移動可能に支持する走査手段と、
前記複数個の振動子のそれぞれから超音波を発振するタイミングを規定する遅延時間パターンを、前記探傷プローブの振動子配置列または配置面の曲率別、並びに前記探傷プローブの振動子配置列または配置面と被検体の探傷面との間隔別に保持する記憶手段と、を有し、
前記曲率別及び前記間隔別の組み合わせによる複数の遅延時間パターンに基づき、前記探傷プローブの移動方向と直交する方向に電子スキャンすることを特徴とする超音波探傷装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N29/10
, G01N29/24 502
2G047BA03
, 2G047BC07
, 2G047DB02
, 2G047DB17
, 2G047EA11
, 2G047EA16
, 2G047GA19
, 2G047GB02
, 2G047GB16
, 2G047GF18
, 2G047GF22
