Pat
J-GLOBAL ID:201203035311929509

結晶の回折測定方法及びそのための回折測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 白洲 一新
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010289042
Publication number (International publication number):2012137346
Application date: Dec. 26, 2010
Publication date: Jul. 19, 2012
Summary:
【課題】 本発明は、X線等による回折測定時の含水結晶の乾燥を防ぎ、適切な試料凍結を行う方法及びそのための装置の提供を目的とする。【解決手段】 結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む含水結晶のX線回折測定方法。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
回折測定方法であって、結晶を水溶性ポリマーで包み込む工程を含む回折測定方法。
IPC (1):
G01N 23/20
FI (1):
G01N23/20
F-Term (16):
2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001AA04 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001CA03 ,  2G001CA04 ,  2G001GA13 ,  2G001GA14 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001KA01 ,  2G001KA08 ,  2G001LA01 ,  2G001LA05 ,  2G001RA02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
Show all
Cited by examiner (4)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page