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J-GLOBAL ID:201203037606116243
構造物変位量測定方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (5):
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011109218
Publication number (International publication number):2011257389
Application date: May. 16, 2011
Publication date: Dec. 22, 2011
Summary:
【課題】画像式測定方法であっても、動的測定や1mm以下の微小変位を離れた位置からの完全非接触測定を可能とし、測定精度の推定を可能にする構造物変位量測定方法を提供する。【解決手段】動的撮影を行い、基準画像と測定画像とを比較、画素変位量を算出し、撮影距離と撮影角度の情報をもとに、画素数で表わされた変位量を実スケールの単位に変換し、変位量を算出する。あわせ実測定誤差も算出する。現地の条件により、測定誤差が大きい場合には、撮影条件を変更する。大気揺らぎの影響を軽減するために、撮影距離の制約を導入、夜間撮影による測定を可能にする。また、測定データに大気揺らぎの影響がある場合、フィルタ処理などによる軽減を可能とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
基準画像と測定画像を比較し、画素変位量を算出した上で、撮影距離と撮影角度の情報から実寸変位量を算出する完全非接触の構造物変位量測定方法。
IPC (3):
G01C 11/06
, G01B 11/00
, G01B 11/16
FI (3):
G01C11/06
, G01B11/00 H
, G01B11/16 H
F-Term (28):
2F065AA04
, 2F065AA07
, 2F065AA09
, 2F065AA65
, 2F065BB05
, 2F065CC14
, 2F065DD11
, 2F065EE00
, 2F065FF04
, 2F065FF09
, 2F065FF61
, 2F065FF67
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL06
, 2F065PP01
, 2F065QQ00
, 2F065QQ03
, 2F065QQ17
, 2F065QQ18
, 2F065QQ24
, 2F065QQ26
, 2F065QQ28
, 2F065QQ33
, 2F065QQ38
, 2F065QQ41
, 2F065SS02
, 2F065SS13
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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撮影画像による変位計測時の補正方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-060386
Applicant:日立造船株式会社, 公立大学法人大阪府立大学
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撮影画像処理装置、撮影装置、および、記憶媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-311537
Applicant:カシオ計算機株式会社
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撮影画像における歪曲収差補正方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-148850
Applicant:日立造船株式会社, 公立大学法人大阪府立大学
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Cited by examiner (4)