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J-GLOBAL ID：201203046949355862

X線診断装置

Inventor： 佐藤 直高 ,  上原 久幸 ,  小澤 政広 ,  田中 学 ,  松本 国敏 ,  坂田 充
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝 ,  東芝メディカルシステムズ株式会社
Agent (1)： 特許業務法人東京国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010283568
Publication number (International publication number)：2012130436
Application date： Dec. 20, 2010
Publication date： Jul. 12, 2012
Summary：

【課題】被検体における特定箇所へのX線の被曝量の増加を防ぐことができるX線診断装置を提供する。【解決手段】実施形態のX線診断装置は、被検体にX線を照射するX線照射部と、前記X線照射部に対向し、前記X線を受像するX線受像部と、前記X線受像部で受像した投影画像データを画像処理する画像処理部と、前記画像処理部で画像処理した画像データを記憶する画像データ記憶部と、前記画像データ記憶部で記憶した画像データから、前記X線の照射位置に関する付帯情報を取得する付帯情報取得部と、前記付帯情報取得部で取得した、複数の前記画像データにおける付帯情報に基づき、複数のX線が集中している部分を関心部位として特定する関心部位特定部と、を有することを特徴とする。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被検体にX線を照射するX線照射部と、 前記X線照射部に対向し、前記X線を受像するX線受像部と、 前記X線受像部で受像した投影画像データを画像処理する画像処理部と、 前記画像処理部で画像処理した画像データを記憶する画像データ記憶部と、 前記画像データ記憶部で記憶した画像データから、前記X線の照射位置に関する付帯情報を取得する付帯情報取得部と、 前記付帯情報取得部で取得した、複数の前記画像データにおける付帯情報に基づき、複数のX線が集中している部分を関心部位として特定する関心部位特定部と、 を有することを特徴とするX線診断装置。

IPC (1)：

A61B 6/00

FI (1)：

A61B6/00 320R

F-Term (13)：

4C093AA08 ,  4C093CA34 ,  4C093DA02 ,  4C093EC16 ,  4C093FA18 ,  4C093FA43 ,  4C093FA55 ,  4C093FB20 ,  4C093FD11 ,  4C093FF21 ,  4C093FF22 ,  4C093FF28 ,  4C093FH03