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J-GLOBAL ID：201203047821056656

ナノポア式分析装置及び試料分析用チャンバ

Inventor：
大浦 剛

About 大浦 剛


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (4)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  渡邊 孝弘 ,  岩崎 重美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010168769
Publication number (International publication number)：2012026986
Application date： Jul. 28, 2010
Publication date： Feb. 09, 2012
Summary：
【課題】流路と電極を配置するスペースを確保し、ナノポアを有するチャンバを高密度に配置して分析ができる、ナノポア式分析装置を提供する。【解決手段】チャンバ103とチャンバ103内に設けられた基板102とを備え、基板102にはナノメートルサイズのナノポア101が設けられており、チャンバ103内の領域に電圧を印加することによって、ナノポア101に試料を通過させて試料の分析を行う、ナノポア式分析装置において、チャンバ103内へ液体を流入する流入路113と114と電圧を印加する導電部115と116とが一体的に形成されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
チャンバと前記チャンバ内に設けられた基板とを備え、 前記基板にはナノメートルサイズの細孔が設けられており、 前記チャンバ内の領域に電圧を印加することによって、前記細孔に試料を通過させて試料の分析を行う、ナノポア式分析装置において、 前記電圧を印加する電極部から、前記チャンバ内へ液体を流入および/または流出することを特徴とするナノポア式分析装置。
IPC (2)：
G01N 27/02 ,  G01N 27/22
FI (2)：
G01N27/02 D ,  G01N27/22 B
F-Term (16)：
2G060AA06 ,  2G060AA07 ,  2G060AC05 ,  2G060AD06 ,  2G060AE17 ,  2G060AF02 ,  2G060AF03 ,  2G060AF06 ,  2G060AF07 ,  2G060AF10 ,  2G060FA02 ,  2G060FA10 ,  2G060FB06 ,  2G060HA01 ,  2G060HA02 ,  2G060KA10
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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