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J-GLOBAL ID:201203057444716293

塗膜劣化予測方法、塗膜劣化予測装置及びコンピュータプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 森川 淳
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011094516
Publication number (International publication number):2012225811
Application date: Apr. 20, 2011
Publication date: Nov. 15, 2012
Summary:
【課題】塗膜の将来の劣化状態を予測できる塗膜劣化予測方法、塗膜劣化予測装置及びコンピュータプログラムを提供すること。【解決手段】塗膜劣化予測装置1の仮想劣化画像作成手段11は、所定のパラメータ及び時間変数に対応する複数の仮想劣化画像を作成する。対象画像作成手段12は、塗装面の撮影画像から対象画像を作成する。仮想プロファイル作成手段13は、仮想劣化画像の統計量として劣化部の個数f、面積率a、標準偏差sを算出し、f-a-s空間座標上に仮想プロファイルを示す。統計量算出手段14は、対象画像から統計量を算出し、対象値特定手段15は、対象画像に近い仮想プロファイルの統計量を特定し、特定した特定量に対応するパラメータ及び時間変数を特定する。劣化予測画像作成手段16は、特定されたパラメータを劣化進行モデルに入力し、時間変数に特定された値よりも大きい値を入力して、劣化予測画像を作成する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
塗膜の劣化の進行を表す劣化進行モデルのパラメータに複数の候補値を設定し、パラメータの候補値毎に、時系列で表された複数の仮想劣化画像を作成する工程と、 塗膜の劣化予測の対象である塗装面の撮影画像から、塗膜の劣化部を抽出して対象画像を作成する工程と、 上記複数の仮想劣化画像から劣化部に関する統計量を算出し、算出された統計量により表される仮想プロファイルを作成する工程と、 上記対象画像から、劣化部に関する統計量を算出する工程と、 上記対象画像の統計量に最も近い仮想プロファイルの統計量を特定し、特定された統計量に対応するパラメータの値と時間変数の値を特定する工程と、 上記特定されたパラメータの値を劣化進行モデルのパラメータに入力する一方、上記特定された時間変数の値よりも大きい値を劣化進行モデルの時間変数に入力し、これにより得られた劣化進行モデルの出力に基づいて劣化予測画像を作成する工程と を備えることを特徴とする塗膜劣化予測方法。
IPC (5):
G01N 21/88 ,  G01B 11/28 ,  G01N 17/00 ,  G01B 11/30 ,  G06T 1/00
FI (5):
G01N21/88 Z ,  G01B11/28 H ,  G01N17/00 ,  G01B11/30 A ,  G06T1/00 300
F-Term (36):
2F065AA49 ,  2F065AA50 ,  2F065AA58 ,  2F065CC06 ,  2F065CC14 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ41 ,  2G050AA04 ,  2G050CA10 ,  2G050EB07 ,  2G051AA90 ,  2G051AB12 ,  2G051CA04 ,  2G051EA12 ,  2G051EB09 ,  2G051ED04 ,  5B057AA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE08 ,  5B057CE09 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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