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J-GLOBAL ID：201203061956993814

微粒子形状分析装置

Inventor： 茂木 信宏 ,  竹川 暢之 ,  近藤 豊
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学
Agent (1)： 成瀬 重雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010235120
Publication number (International publication number)：2012088178
Application date： Oct. 20, 2010
Publication date： May. 10, 2012
Summary：

【課題】気体中を浮遊する煤微粒子の形状情報を選択的に分析する。また、煤微粒子の吸収断面積を分析する。【解決手段】光通路1を通過する直線偏光の光にエアロゾルを含む気体を導入する。第1白熱光検出部3は、第1の方向に進む白熱光のS偏光とP偏光とをそれぞれ測定する。第2白熱光検出部4は、第2の方向に進む白熱光のS偏光とP偏光とをそれぞれ測定する。解析部7は、第1白熱光検出部3で検出したS偏光及びP偏光の検出値と、第2白熱光検出部4で検出したS偏光及びP偏光の検出値とを用いて、エアロゾルについての吸収断面積を算出する処理を行う。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光通路と、導入部と、第1白熱光検出部と、第2白熱光検出部と、解析部とを備えており、 前記光通路は、直線偏光の光を通過させる構成となっており、 前記導入部は、前記光通路を通過する前記光に、測定対象であるエアロゾルを含む気体を導入する構成となっており、 前記第1白熱光検出部は、前記光が前記エアロゾルに照射されたことによって生じる白熱光のうち、第1の方向に進む光のS偏光とP偏光とをそれぞれ測定する構成となっており、 前記第2白熱光検出部は、前記光が前記エアロゾルに照射されたことによって生じる白熱光のうち、第2の方向に進む光のS偏光とP偏光とをそれぞれ測定する構成となっており、 前記解析部は、前記第1白熱光検出部で検出したS偏光及びP偏光の検出値と、前記第2白熱光検出部で検出したS偏光及びP偏光の検出値とを用いて、前記エアロゾルについての吸収断面積を算出する処理を行う構成となっている ことを特徴とする微粒子形状分析装置。

IPC (1)：

G01N 15/14

FI (1)：

G01N15/14 P