測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：西村竜平 , 佐藤明子 , 齊藤真大
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011047027
Publication number (International publication number)：2012184973
Application date： Mar. 03, 2011
Publication date： Sep. 27, 2012
Summary：

【課題】表示内容の変更態様が複数ある測定装置において、ユーザが直感的で分かりやすい操作で、表示内容を変更できる測定装置を提供する。【解決手段】測定対象物を測定する測定部10から得た測定結果をタッチパネル式ディスプレイ40に表示する表示制御部33を具備し、当該表示制御部33が、前記ディスプレイ40に対するタッチスライド操作に応じて前記測定結果の表示内容を変更するものであり、前記タッチスライド操作が第1方向に沿ったものである場合と当該第1方向とは異なる第2方向に沿ったものである場合とで、前記測定結果の表示内容の変更態様が異なるようにした。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

測定対象物を測定する測定部から得た測定結果をタッチパネル式ディスプレイに表示する表示制御部を具備し、前記表示制御部が、前記ディスプレイに対するタッチスライド操作に応じて前記測定結果の表示内容を変更するものであり、前記タッチスライド操作が第1方向に沿ったものである場合と当該第1方向とは異なる第2方向に沿ったものである場合とで、前記測定結果の表示内容の変更態様が異なることを特徴とする測定装置。

IPC (6)：

G01N 27/26 , G01N 27/416 , G01N 27/49 , G01N 27/06 , G01N 35/00 , G01D 7/00

FI (10)：

G01N27/26 371Z , G01N27/46 T , G01N27/46 353F , G01N27/46 341 , G01N27/46 306 , G01N27/46 346 , G01N27/06 Z , G01N35/00 A , G01N35/00 Z , G01D7/00 302Z

F-Term (7)：

2G058AA01 , 2G058GA11 , 2G058GD07 , 2G060AA06 , 2G060AF08 , 2G060HC13 , 2G060HC19

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

波形観測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-107233 Applicant：株式会社キーエンス
微粒子検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-275463 Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所, 株式会社住化分析センター, 株式会社日立プラントテクノロジー
測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-115649 Applicant：株式会社堀場製作所

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Cited by examiner (5)

波形観測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-107233 Applicant：株式会社キーエンス
微粒子検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-275463 Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所, 株式会社住化分析センター, 株式会社日立プラントテクノロジー
測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-115649 Applicant：株式会社堀場製作所

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