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J-GLOBAL ID：201203069187397643

近赤外線吸収性能の面分布測定方法、及び近赤外線吸収フィルタの製造方法

Inventor： 末次 博俊
Applicant, Patent owner： 大日本印刷株式会社
Agent (6)： 金山 聡 ,  深町 圭子 ,  伊藤 英生 ,  藤枡 裕実 ,  後藤 直樹 ,  伊藤 裕介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010189617
Publication number (International publication number)：2012047582
Application date： Aug. 26, 2010
Publication date： Mar. 08, 2012
Summary：

【課題】近赤外線吸収性能の面均一性を容易に測定できる、近赤外線吸収性能の面分布測定方法と、この測定方法を利用した近赤外線吸収フィルタの製造方法を提供する。【解決手段】透明基材シート2上に近赤外線は吸収し且つ可視光は吸収しない近赤外線吸収層3を積層した帯状の近赤外線吸収フィルタ1に対して、搬送させながら、その幅方向TD及び流れ方向MDに亘る所定領域面A毎に、近赤外線光源5からの透過光の面分布を、近赤外線領域に感度を有する二次元イメージセンサ5による二次元画像として撮影し、画像処理装置7で画像処理して、その輝度分布から近赤外線吸収性能の面分布を測定し、ディスプレイ8に表示する。更に、判定基準に従い面分布の不良品と良品とをマーキング等で識別できる様にすると良い。この方法を用いて、近赤外線吸収フィルタを製造する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

透明基材シート上に、近赤外線は吸収し且つ可視光は吸収しない近赤外線吸収層を積層した、帯状シート形態の近赤外線吸収フィルタに対して、その幅方向及び流れ方向に亘る所定領域面毎に、該近赤外線吸収フィルタを透過させた近赤外線の面分布を、近赤外線領域に感度を有する二次元イメージセンサによる二次元画像として撮影し、撮影された二次元画像の輝度分布から前記所定領域面の近赤外線吸収性能の面分布を測定する、近赤外線吸収性能の面分布測定方法。

IPC (7)：

G01N 21/892 ,  G02B 5/22 ,  G01N 21/958 ,  G01M 11/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/28

FI (7)：

G01N21/892 A ,  G02B5/22 ,  G01N21/958 ,  G01M11/00 T ,  G01B11/00 H ,  G01B11/24 K ,  G01B11/28 H

F-Term (38)：

2F065AA03 ,  2F065AA22 ,  2F065AA51 ,  2F065AA58 ,  2F065BB13 ,  2F065BB22 ,  2F065CC02 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065GG07 ,  2F065GG15 ,  2F065GG21 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL22 ,  2F065PP16 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS04 ,  2F065SS13 ,  2G051AA41 ,  2G051AB02 ,  2G051AB12 ,  2G051BA06 ,  2G051CA04 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G051EB01 ,  2G086EE05 ,  2H048CA04 ,  2H048CA12 ,  2H048CA19 ,  2H048CA21