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J-GLOBAL ID：201203070221194011
偏波多重信号解析装置および方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
早川 誠志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010210574
Publication number (International publication number)：2012068031
Application date： Sep. 21, 2010
Publication date： Apr. 05, 2012
Summary：
【課題】同一波長の直交する偏波が多重化された偏波多重信号光の各偏光を分離し、各信号光の特性を評価できるようにする。【解決手段】光入射部21に入射され可変波長光フィルタ22を透過した光を前処理部23で受けて、偏波状態の変更、位相変化から振幅変化への変換を行い、偏光ビームスプリッタ26に入射し、偏光ビームスプリッタ26で分離された一方の偏光成分の強度を第1受光部30で検出し、他方の強度を第2受光部31で検出する。また、分離された両偏光成分を差動バランス型の第3受光部33に入射し、両偏光成分の差分信号の強度を検出し、その振幅を振幅検出部34で検出する。評価処理部40は、可変波長光フィルタ22と前処理部23を制御しつつ、第1受光部30、第2受光部31、振幅検出部34の出力を受けて、光入射部21に入射された偏波多重信号光の評価に必要な各特性を求める。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
直交する偏波成分がそれぞれ位相変調されている偏波多重信号光を入射させるための光入射部(21)と、
前記光入射部に入射された偏波多重信号光を受け、所望波長の光を抽出する可変波長光フィルタ(22)と、
入力光の偏波状態を変化させて出射する偏波コントローラ(24)および入力光の位相変化を振幅変化に変換するPM-AM変換部(25)を有し、前記可変波長光フィルタの出射光に対する偏波状態の変更および位相変化から振幅変化への変換の処理を行う前処理部(23)と、
前記前処理部を通過した光を、互いに直交する偏光成分に分離する偏光ビームスプリッタ(26)と、
前記偏光ビームスプリッタによって分離された一方の偏光成分を2分岐する第1ビームスプリッタ(27)と、
前記偏光ビームスプリッタによって分離された他方の偏光成分を2分岐する第2ビームスプリッタ(28)と、
前記第1ビームスプリッタで分岐された一方の光を受けて前記一方の偏光成分の強度を検出する第1受光部(30)と、
前記第2ビームスプリッタで分岐された一方の光を受けて前記他方の成分の強度を検出する第2受光部(31)と、
前記第1ビームスプリッタで分岐された他方の光と前記第2ビームスプリッタで分岐された他方の光を、順方向直列接続された1対の受光素子でそれぞれ受け、その接続点の信号を検出する差動バランス型に構成され、前記一方の偏光成分と他方の偏光成分の差分信号の強度を検出する第3受光部(33)と、
前記第3受光部の出力信号の振幅を検出する振幅検出部(34)と、
前記可変波長光フィルタおよび前記前処理部を制御しつつ、前記第1受光部、第2受光部および振幅検出部の出力を受けて、前記光入射部に入射された偏波多重信号光の評価に必要な特性を求める評価処理部(40)とを備えた偏波多重信号解析装置。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (8)：
2G020BA20
, 2G020CB06
, 2G020CC23
, 2G020CC26
, 2G020CC47
, 2G020CD03
, 2G020CD15
, 2G020CD34
