評価予測装置、評価予測方法、及びプログラム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：亀谷美明 , 金本哲男 , 萩原康司 , 松本一騎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010200980
Publication number (International publication number)：2012058972
Application date： Sep. 08, 2010
Publication date： Mar. 22, 2012
Summary：

【課題】高速に評価値を予測可能な評価予測装置を提供すること。【解決手段】第1アイテムが持つ潜在的な特徴を表す第1潜在ベクトル、第2アイテムが持つ潜在的な特徴を表す第2潜在ベクトル、及び、前記第1潜在ベクトルと前記第2潜在ベクトルとの内積で表現される評価値を要素に持つランク数Hの評価値行列のランクh(h=0〜H)の残差行列Rhをそれぞれ正規分布に従う確率変数とみなし、学習データとして与えられた既知の評価値を用いた変分ベイズ推定を実行することにより、前記第1潜在ベクトル及び前記第2潜在ベクトルの変分事後分布を算出する事後分布算出部と、前記事後分布算出部により算出された前記第1潜在ベクトル及び第2潜在ベクトルの変分事後分布を用いて未知の前記評価値を予測する評価値予測部と、を備える、評価予測装置が提供される。【選択図】図10

Claim (excerpt)：

第1アイテムが持つ潜在的な特徴を表す第1潜在ベクトル、第2アイテムが持つ潜在的な特徴を表す第2潜在ベクトル、及び、前記第1潜在ベクトルと前記第2潜在ベクトルとの内積で表現される評価値を要素に持つランク数Hの評価値行列のランクh(h=0〜H)の残差行列Rhをそれぞれ正規分布に従う確率変数とみなし、学習データとして与えられた既知の評価値を用いた変分ベイズ推定を実行することにより、前記第1潜在ベクトル及び前記第2潜在ベクトルの変分事後分布を算出する事後分布算出部と、前記事後分布算出部により算出された前記第1潜在ベクトル及び第2潜在ベクトルの変分事後分布を用いて未知の前記評価値を予測する評価値予測部と、を備える、評価予測装置。

IPC (2)：

G06N 5/04 , G06F 17/30

FI (3)：

G06N5/04 550J , G06F17/30 340A , G06F17/30 220Z

F-Term (5)：

5B075ND20 , 5B075NR02 , 5B075PR08 , 5B075QM08 , 5B075UU40

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