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J-GLOBAL ID：201203078516295414

ニッケル濃縮装置

Inventor： 横山 潤 ,  金 雅克 ,  北川 明子
Applicant, Patent owner： 住友金属鉱山株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011068324
Publication number (International publication number)：2012201936
Application date： Mar. 25, 2011
Publication date： Oct. 22, 2012
Summary：

【課題】 ニッケルを含有する低品位ニッケル鉱に乾式前処理を施し、ニッケル含有濃度に応じて有用鉱石と脈石とに分離することにより、高品位ニッケル鉱を回収するニッケル濃縮装置を提供する。【解決手段】 鉱石中に含まれる水分を除去する乾燥炉と、乾燥後に塊状となった鉱石を粗粉砕する粉砕機と、粗粉砕後の鉱石の表面を研磨する磨砕機と、磨砕後の粗粒分と細粒分を粒径毎に分級しながら搬送する搬送機と、前記搬送機により搬送されてくる粗粒分にX線を照射し、発生した蛍光X線を検知することにより、粗粒分に含有する元素を検出する蛍光X線計測器と、前記粗粒分の移動方向における前記X線の照射位置の下流側に設けられ、前記含有元素の検出結果に基づいて前記粗粒分の搬送経路を前記磨砕機、あるいは装置外排出に切り換える搬送経路切換機を有するニッケル濃縮装置により上記課題を解決する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

鉱石中に含まれる水分を除去する乾燥炉と、乾燥後に塊状となった鉱石を粗粉砕する粉砕機と、粗粉砕後の鉱石の表面を研磨する磨砕機と、 磨砕後の粗粒分と細粒分を粒径毎に分級しながら搬送する搬送機と、前記搬送機により搬送されてくる粗粒分にX線を照射し、発生した蛍光X線を検知することにより、粗粒分に含有する元素を検出する蛍光X線計測器と、 前記粗粒分の移動方向における前記X線の照射位置の下流側に設けられ、前記含有元素の検出結果に基づいて前記粗粒分の搬送経路を前記磨砕機、あるいは装置外排出に切り換える搬送経路切換機を有することを特徴とするニッケル濃縮装置。

IPC (3)：

C22B 23/00 ,  B02C 17/04 ,  B07B 1/04

FI (3)：

C22B23/00 101 ,  B02C17/04 Z ,  B07B1/04

F-Term (16)：

4D021AA01 ,  4D021AB02 ,  4D021CA01 ,  4D021DA13 ,  4D021DC10 ,  4D021EA05 ,  4D021EB01 ,  4D021EB03 ,  4D063FF02 ,  4D063GA07 ,  4D063GC17 ,  4K001AA19 ,  4K001BA02 ,  4K001CA01 ,  4K001CA02 ,  4K001CA09