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J-GLOBAL ID:201204085294883045  Research Project code:6175 Update date:Oct. 07, 2013

機器実働時に発生する局所応力・ひずみ測定システムの開発

Study period:2008 - 継続中
Organization (1):
Investigating Researcher (1):
Research overview:
ラマン散乱ピーク波数がひずみに依存して移動する高分子材料を測定対象にコーティングし、これをμmオーダの空間分解能を有する顕微ラマン分光法で測定することにより部品に発生する局所応力が測定可能なシステムを開発する。現場で実部品に容易にコーティングできる高分子材料とし、また照射・集光部を光ファイバを用いて分離し、遠隔型とすることにより、実稼動時の部品の破壊起点近傍の応力・ひずみを測定可能とする。
Research program: シーズ発掘試験
Ministry with control over the research :
文部科学省
Organization with control over the research:
独立行政法人科学技術振興機構
Parent Research Project (1):

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