Art

J-GLOBAL ID：201302203885720342   Reference number：13A0463664

Nondestructive elemental depth profiling of Japanese lacquerware ’Tamamushi-nuri’ by confocal 3D-XRF analysis in comparison with micro GE-XRF

微小部Ge-XRF分析との比較における共焦点型三次元XRF分析による日本の漆器‘玉虫塗り’の非破壊的な深さ方向元素プロフィール

Author (2)： TSUJI K ,  NAKANO K
Material： X-RAY SPECTROMETRY
Volume： 38  Issue： 5  Page： 446-450  Publication year： 2009 
JST Material Number： O6743A  ISSN： 0049-8246  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (10)： 微小 ,  Ge ,  XRF ,  分析 ,  共焦点 ,  日本 ,  漆器 ,  深さ方向 ,  元素 ,  プロフィール