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J-GLOBAL ID：201302206145282839   Reference number：13A0035713

Raman microscopy of silicon for electronic displays and solar cells: Enhanced Raman scattering observed for microstructured surface

電子ディスプレイ及び太陽電池のためのシリコンのRaman顕微鏡観察:微細構造化表面に関して観測した増強Raman散乱

Author (2)： KITAHARA K. (Interdisciplinary Graduate School of Sci. and Engineering, Shimane Univ., 1060, Nishikawatsu, Matsue 690-8504, JPN) ,  ISHIZAKI A. (Interdisciplinary Graduate School of Sci. and Engineering, Shimane Univ., 1060, Nishikawatsu, Matsue 690-8504, JPN)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 112  Issue： 12  Page： 123524-123524-7  Publication year： Dec. 15, 2012 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *silicon ,  *semiconductor thin film ,  *micro structure ,  *surface enhanced Raman spectroscopy ,  grain boundary ,  defect density ,  display device ,  solar cell
Semi thesaurus term： electronic display

JST classification (2)： Infrared spectra,Raman scattering and Raman spectra of inorganic compounds  (BM08063C) ,  Semiconductor thin films  (BK14040E)

Terms in the title (9)： 電子ディスプレイ ,  太陽電池 ,  シリコン ,  Raman顕微鏡 ,  観察 ,  微細構造 ,  観測 ,  増強 ,  Raman散乱