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J-GLOBAL ID：201302222405494423   Reference number：12A1812145

Low Temperature Scanning Tunneling Microscopy on Nano-size Superconductors

低温走査トンネル顕微鏡によるナノサイズ超伝導体の研究

Author (7)： SAKAMOTO TAKAKI (東京大学物性研究所) ,  TOMINAGA TAKAAKI (東京大学物性研究所) ,  NISHIO TAKAHIRO (理化学研究所) ,  EGUCHI TOYOAKI (科学技術振興機構 ERATO 中嶋ナノクラスター集積制御プロジェクト) ,  EGUCHI TOYOAKI (慶應義塾大学大学院理工学研究科) ,  YOSHIDA YASUO (東京大学物性研究所) ,  HASEGAWA YUKIO (東京大学物性研究所)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 33  Issue： 8  Page： 443-448 (J-STAGE)  Publication year： 2012 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： low temperature ,  *scanning tunneling microscope ,  *spectroscopy ,  length ,  superconductor ,  *Superconductivity ,  wafer ,  *Lead ,  island structure ,  energy gap ,  flow structure ,  *vortex ,  *fluxon ,  voltage ,  conductance ,  visualization ,  spatial distribution ,  clustering ,  pore structure ,  ultra high vacuum ,  nano size ,  vortex line(flux) ,  superconducting gap ,  Si wafer ,  *scanning tunneling spectroscopy ,  modification
Semi thesaurus term： silicon substrate ,  tunnel conductance ,  bias voltage ,  vortex structure ,  pore structure ,  *scanning tunneling spectroscopy ,  *superconductivity ,  *fluxon

JST classification (4)： Magnetohydrodynamics  (BC05000Q) ,  Crystal growth of metals  (BK13030M) ,  Properties of metallic superconductors  (BM04022R) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (17)：

• GUO, Y. Science. 2004, 306, 1915
• QIN, S. Science. 2009, 324, 1314
• ZHANG, T. Nat. Phys. 2010, 6, 104
• KANDA, A. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 257002
• GRIGORIEVA, I. V. Phys. Rev. Lett. 2006, 96, 077005

Terms in the title (5)： 低温 ,  走査トンネル顕微鏡 ,  ナノサイズ ,  超伝導体 ,  研究