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J-GLOBAL ID：201302234247111200
Reference number：13A0391360
Simultaneous measurement of emissivity and temperature of silicon wafers using a polarization technique
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Publisher site
Copy service
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Access JDreamⅢ for advanced search and analysis.
Author (2)：
,
Material：
Volume：
43
Issue：
5
Page：
645-651
Publication year：
2010
JST Material Number：
O3701A
ISSN：
0263-2241
Document type：
Article
Country of issue：
Other (ZZZ)
Language：
ENGLISH (EN)
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