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J-GLOBAL ID：201302280194099522   Reference number：13A1584673

Depth-selective elemental imaging of microSD card by confocal micro XRF analysis

共焦点マイクロXRF分析によるmicroSDカードの深さ選択的元素イメージング

Author (3)： NAKAZAWA Takashi (Osaka City Univ.-Applied Chemistry, Osaka, JPN) ,  NAKAZAWA Takashi (Chuo Univ., Tokyo, JPN) ,  TSUJI Kouichi (Osaka City Univ.-Applied Chemistry, Osaka, JPN)
Material： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrom)
Volume： 42  Issue： 3  Page： 123-127  Publication year： May. 2013 
JST Material Number： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  Document type： Article
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (7)： 共焦点 ,  マイクロ ,  XRF ,  分析 ,  カード ,  元素 ,  イメージング