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J-GLOBAL ID：201302281189207089   Reference number：13A0355654

In situ investigation of oxide thin film growth using scanning tunneling microscopy.

走査トンネル顕微鏡を用いた酸化物薄膜成長のその場観察

Author (5)： HITOSUGI TARO (東北大 原子分子材料科学高等研究機構) ,  HITOSUGI TARO (JST-さきがけ) ,  SHIMIZU RYOTA (東北大 原子分子材料科学高等研究機構) ,  OSAWA TAKEO (東北大 原子分子材料科学高等研究機構) ,  IWAYA KATSUYA (東北大 原子分子材料科学高等研究機構)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 82  Issue： 2  Page： 141-145  Publication year： Feb. 10, 2013 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning tunneling microscope ,  *in situ observation ,  *oxide ,  *thin film ,  *thin film growth ,  spectroscopy ,  strontium titanate ,  aluminum oxide ,  lanthanum compound ,  functional material
Semi thesaurus term： strontium titanate ,  *oxide thin film ,  scanning tunneling spectroscopy ,  functional material

JST classification (2)： Oxide thin films  (BK14050P) ,  Techniques and equipment of thin film deposition  (BK14020I)

Reference (34)：

• 1) M. Imada, A. Fujimori, and Y. Tokura: Rev. Mod. Phys. 70, 1039 (1998).
• 2) 細野秀雄:応用物理81, 728 (2012).
• 3) 十倉好紀:強相関電子と酸化物(岩波書店,2002).
• 4) Y. Tokura and N. Nagaosa: Science 288, 462 (2000).
• 5) D. G. Schlom, L.-Q. Chen, X. Pan, A. Schmehl, and M. A. Zurbuchen: J. Am. Ceram. Soc. 91, 2429 (2008).

Terms in the title (4)： 走査トンネル顕微鏡 ,  酸化物薄膜 ,  成長 ,  その場観察