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J-GLOBAL ID：201302285040195849   Reference number：13A1811769

《審査官面接》米国特許実務研究 審査官とのインタビューは有効か?特許実務者への意識調査報告

Author (11)： WATANABE YUICHI (米国特許実務研究会) ,  YOSHIDA TETSU (米国特許実務研究会) ,  ABE SHIN'YA (米国特許実務研究会) ,  UEBA YOSHIKI (米国特許実務研究会) ,  WATANABE YUICHI (Osha Liang LLP) ,  YOSHIDA TETSU (Muncy, Geissler, Olds & Lowe, PLLC) ,  ABE SHIN'YA (凸版印刷) ,  UEBA YOSHIKI (日立) ,  YOSHIDA TETSU (日本弁理士会) ,  ABE SHIN'YA (日本弁理士会) ,  UEBA YOSHIKI (日本弁理士会)
Material： パテント  (Patent)
Volume： 66  Issue： 13  Page： 1-8  Publication year： Nov. 10, 2013 
JST Material Number： G0278A  ISSN： 0287-4954  CODEN： JAXXA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： United States of America ,  *patent examination ,  face to face survey ,  questionnaire ,  cost-effectiveness analysis ,  consciousness investigation ,  effectiveness ,  cost reduction ,  science and technology ,  timing analysis ,  Japan
Semi thesaurus term： ground of rejection

JST classification (1)： Industrial property  (HA03000C)

Terms in the title (8)： 審査 ,  面接 ,  米国 ,  特許 ,  研究 ,  インタビュー ,  意識調査 ,  報告