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J-GLOBAL ID：201302297818971378   Reference number：13A0355653

In situ electron microscopy observations of graphene growth.

電子顕微鏡によるグラフェン成長のその場観察

Author (3)： HIBINO HIROKI (NTT 物性科学基礎研) ,  ODAHARA GENKI (産業技術総合研) ,  HONMA YOSHIKAZU (東京理大 理)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 82  Issue： 2  Page： 137-140  Publication year： Feb. 10, 2013 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *carbon material ,  *electron microscope ,  single crystal ,  *in situ observation ,  segregation(concentration distribution) ,  precipitation(phase separation) ,  substrate(plate) ,  scanning electron microscope ,  thermionic emission ,  *graphene
Semi thesaurus term： metal substrate ,  scanning electron microscope ,  low-energy electron microscopy

JST classification (4)： Techniques and equipment of crystal growth  (BK13020B) ,  Carbon and its compounds  (YB02060D) ,  Crystal growth of other inorganic compounds  (BK13060T) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (17)：

• BAUER, E. Rep. Prog. Phys. 1994, 57, 895
• HIBINO, H. Phys. Rev. B. 2008, 77, 075413
• AGO, H. J. Phys. Chem. Lett. 2012, 3, 2228
• ODAHARA, G. Appl. Phys. Exp. 2012, 5, 035501
• OOSTINGA, J. B. Nature Mater. 2008, 7, 151

Terms in the title (4)： 電子顕微鏡 ,  グラフェン ,  成長 ,  その場観察