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J-GLOBAL ID：201302299999977189   Reference number：13A1206372

Kelvin probe microscopy and electronic transport measurements in reduced graphene oxide chemical sensors

還元型酸化グラフェン化学センサにおけるKelvinプローブ顕微鏡及び電子輸送測定

Author (4)： KEHAYIAS Christopher E (Tufts Univ., MA, USA) ,  MACNAUGHTON Samuel (Tufts Univ., MA, USA) ,  SONKUSALE Sameer (Tufts Univ., MA, USA) ,  STAII Cristian (Tufts Univ., MA, USA)
Material： Nanotechnology
Volume： 24  Issue： 24  Page： 245502,1-7  Publication year： Jun. 21, 2013 
JST Material Number： W0108A  ISSN： 0957-4484  CODEN： NNOTER  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *oxide ,  *carbon material ,  reduction (reaction) ,  *MOSFET ,  gold electrode ,  *gas sensor ,  Ammonia ,  selectivity ,  reversible reaction ,  rapidity ,  force microscope ,  measurement ,  electron transfer ,  aliphatic ketone ,  *graphene oxide ,  electrical transport measurement ,  reduced graphene oxide ,  Kelvin probe force microscope
Semi thesaurus term： Kelvin probe force microscope ,  *back gate type MOS transistor ,  rapidity

JST classification (2)： Analytical instruments  (CC02020S) ,  Carbon and its compounds  (YB02060D)

Substance index (1)： Acetone

Terms in the title (5)： 還元型酸化グラフェン ,  化学センサ ,  Kelvinプローブ ,  顕微鏡 ,  電子輸送測定