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J-GLOBAL ID：201303001091518257

光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法

Inventor： 保立 和夫 ,  何 祖源 ,  水野 洋輔
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学
Agent (3)： 牛木 護 ,  吉田 正義 ,  清水 栄松
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2007316440
Publication number (International publication number)：2009139241
Patent number：5105302
Application date： Dec. 06, 2007
Publication date： Jun. 25, 2009
Claim (excerpt)：

【請求項1】 周波数変調された連続光を出力する光源部と、 前記光源部からの出力光を、被測定光ファイバの片端からポンプ光として入射させるポンプ光生成手段と、 前記光源部からの出力光を、参照光として生成する参照光生成手段と、 前記被測定光ファイバ内のブリルアン散乱により生じた反射光と前記参照光とを干渉させ、前記出力光の周波数変調を利用して、前記被測定光ファイバ内のある位置で発生した散乱による反射光を干渉出力として選択的に抽出する検出手段と、 前記検出手段からの干渉出力により、前記位置でのブリルアン周波数シフトを測定し、前記被測定光ファイバの特性を測定する測定手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ特性測定装置。

IPC (1)：

G01M 11/00 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01M 11/00 U

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

• 特許第3667132号
  
• 特許第3607930号
  
• 光ファイバ分布型測定方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-294865   Applicant：三菱重工業株式会社
• 光ファイバを用いた歪み温度計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-266846   Applicant：三菱重工業株式会社
• 特開平3-009237