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J-GLOBAL ID：201303008255133038

走査型SQUID顕微鏡画像の高解像度化方法

Inventor： 林 正彦 ,  石田 武和
Applicant, Patent owner： 国立大学法人秋田大学 ,  公立大学法人大阪府立大学
Agent (1)： 久保田 千賀志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011197707
Publication number (International publication number)：2013057647
Application date： Sep. 09, 2011
Publication date： Mar. 28, 2013
Summary：

【課題】 ピックアップコイルの線幅(コイル導体の幅)が原因して、高い空間解像度での測定ができない、といった不都合を解消ないし緩和した走査型SQUID顕微鏡(SSM)を提供する。【解決手段】 ピックアップコイル113が無いときに面素片qjのうちコイル導体に対応する面素片を通り抜けていた磁束のうち、ピックアップコイル113があるためにコイル孔側に押しやられた磁束の、面素片qjを通り抜けていた磁束に対する程度を示す形状因子要素fjを各面素片qjについてそれぞれ求めることで、形状因子f、 f={fj|1≦j≦n,nおよびjは自然数} ・・・(1)を算出し、この形状因子fを用いて、元の磁束分布画像を補正する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

先端にピックアップコイルが形成されてなるプローブにより試料の表面を走査し、この走査により取得した前記試料の表面の磁束分布画像を高解像度化する走査型SQUID顕微鏡画像の高解像度化方法において、 ピックアップコイルを含む仮想面を設定し、前記仮想面を面素片qj(1≦j≦n,nおよびjは自然数)に分割し、 前記ピックアップコイルが無いときに面素片qjのうちコイル導体に対応する面素片を通り抜けていた磁束のうち、前記ピックアップコイルがあるためにコイル孔側に押しやられた磁束の、前記面素片qjを通り抜けていた磁束に対する程度を示す形状因子要素fjを前記各面素片qjについてそれぞれ求めることで、形状因子fを(1)式、 f={fj|1≦j≦n,nおよびjは自然数} ・・・(1) により算出し、 前記磁束分布画像に係る磁束分布のフーリエ変換を求め、 当該“磁束分布のフーリエ変換”に、前記形状因子を波数空間で表現した関数を乗算して、波数空間で表現した磁化を求め、これをフーリエ逆変換することで試料の表面上の磁化を得る、 ことを特徴とする走査型SQUID顕微鏡画像の高解像度化方法。

IPC (2)：

G01N 27/72 ,  G01R 33/035

FI (2)：

G01N27/72 ,  G01R33/035

F-Term (9)：

2G017AD32 ,  2G017BA18 ,  2G053AB01 ,  2G053CA03 ,  2G053CA10 ,  2G053CA20 ,  2G053CB27 ,  2G053CB29 ,  2G053DB20